GLP系列平面HPGe低能辐射探测器

产品型号：

简要描述：在3至300keV范围内具有出色的能量分辨率有效面积从30到1000mm2不等 PopTop的灵活性的定时性能可提供直径大于36毫米的探测器可配备特殊反馈电阻

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详细介绍

ORTEC GLP系列平面低能谱仪（LEPS）是一种小面积、高纯锗谱仪，适用于3至300 keV能量范围的应用。br />
LEPS的直径范围为6至36 mm，可为低能和中能提供的能量分辨率。在核结构物理中的低能量下，GLP探测器由于其出色的定时性能而与众不同。

资料 +
- GLP配置指南
- GLP配置指南（A4）
- 半导体探测器概述
- 半导体探测器的物理学综述
可选附件 +

SMART-1选件 (-SMN)
SMART-1选件用于监控和报告重要的系统功能，还可保存验证码并在稍后报告该验证码。它包括高压，因此所有仪器都不需要外部高压电源。SMART-1采用坚固的ABS模塑塑料外壳，并通过模塑应变消除密封电缆牢牢地固定在探测器端盖上。这可避免探测器因水泄漏到高压连接器中而受到严重损坏。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置，不会干扰屏蔽或其他安装硬件。
订购信息 +

请参阅GLP系列平面HPGe低能辐射探测器配置指南配置探测器。

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