KARRAY / PRODUCT DETAILS

用于研究应用的Si带电粒子辐射探测器

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用于研究应用的Si带电粒子辐射探测器

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    用于研究应用的Si带电粒子辐射探测器

    产品型号:

    简要描述:ORTEC提供各种耗尽厚度的硅面垒型探测器,可满足众多研究应用的需求

    • 厂家实力

      Manufacturer Strength
    • 有效保修

      Valid Warranty
    • 质量保障

      Quality Assurance

    产品中心

    PRODUCT CATEGORY

    详细介绍

    ORTEC提供各种耗尽厚度的硅面垒型探测器,可满足众多研究应用的需求。

    *所有分辨率测量均在21±1°C下执行和保证。

    **用5.486-MeV天然α粒子测量。

    A 系列

    B 系列

    主要应用

    高分辨率带电粒子光谱测量(核物理与放射化学 ,空间物理学)

    粒子识别、望远镜探测器(核物理与放射化学,空间物理学)

    探测器类型

    部分耗尽的硅面垒

    全耗尽的硅面垒

    初始材料

    Si

    Si

    有效面积范围 (mm2)

    25-450

    50-450

    有效厚度范围 (µm)

    1000-2000

    150-2000

    保证工作温度范围*

    +25°C 至
    –30°C

    +25°C 至
    –30°C

    二极管结构

    金 - N型硅铝部分耗尽

    金 - N型硅铝全耗尽

    标称等效** 窗口的截止能量

    入口
    800 Å Si

    入口
    800 Å Si
    出口
    2250 Å Si



    C 系列

    D 系列

    主要应用

    从准直光源或光束的反向散射 - 角度相关测量(核物理)

    重离子的飞行时间测量(核物理)

    探测器类型

    环形部分耗尽的硅面垒

    平面全耗尽的硅面垒

    初始材料

    Si

    Si

    有效面积范围 (mm2)

    50-450

    10-450

    有效厚度范围 (µm)

    100-1000

    15-100

    保证工作温度范围*

    25°C 至
    –30°C

    10°C 至
    25
    °C

    二极管结构

    金 - N型硅铝部分耗尽

    金 - N型硅铝全耗尽平面

    标称等效** 窗口的截止能量

    入口
    800 Å Si
    出口
    2250 Å Si

    入口
    800 Å Si
    出口
    2250 Å Si



    F 系列

    R 系列

    主要应用

    重离子谱测量(核物理学)

    可在空气和环境光下进行的带电粒子谱测量

    探测器类型

    部分耗尽的硅面垒

    加固型部分耗尽硅

    初始材料

    Si

    Si

    有效面积范围 (mm2)

    100-900

    50-2000

    有效厚度范围 (µm)

    ≥60

    100-500

    保证工作温度范围*

    +25°C 至
    –30°C

    +25°C 至
    –30°C

    二极管结构

    金 - N型硅铝部分耗尽高场强

    铝 - P型硅金部分耗尽

    标称等效** 窗口的截止能量

    入口
    800 Å Si

    入口
    2300 Å Si


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